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THETIS™ 高分辨納米粒度儀 第一次實(shí)現(xiàn)了在一臺(tái)儀器中輕松測(cè)量膠體懸浮液中各向異性納米顆粒的長(zhǎng)度和寬度，成為表征所有類型的納米顆粒（各向同性和各向異性）的通用和*大的工具，為納米顆粒的測(cè)量提供了*泛的應(yīng)用范圍。 通過(guò)去偏振動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)DDLS，可以檢測(cè)各向異性體系的旋轉(zhuǎn)擴(kuò)散系數(shù)，給出棒狀納米顆粒和纖維的長(zhǎng)度、寬度和長(zhǎng)寬比。

Amerigo高分辨納米粒度和zeta電位分析儀 l 結(jié)合Wallis和Vasco Kin的功能，具有高分辨測(cè)量能力 l 非接觸遠(yuǎn)程測(cè)量納米粒度的動(dòng)力學(xué)分析 l zeta電位的可編程動(dòng)力學(xué)實(shí)驗(yàn)（zeta 對(duì) 溫度/pH/時(shí)間）

動(dòng)態(tài)光散射納米粒度儀,痕量納米顆粒分析儀 麥哲倫 MAGELLAN$nl*的測(cè)量納米顆粒大小和濃度分析（納米顆粒計(jì)數(shù)）技術(shù)$nl顆粒濃度痕量分析低至ppt級(jí)（ng/L）！$nl粒徑范圍：10nm至1μm，可在線流動(dòng)測(cè)量

原位在線納米粒度儀,Vasco Kin原位時(shí)間分辨納米粒度分析儀$nl 粒度測(cè)量范圍 : 0.5nm 到 10µm$nl 背向動(dòng)態(tài)光散射原理，實(shí)時(shí)遠(yuǎn)程非接觸測(cè)量$nl 監(jiān)測(cè)納米顆粒合成過(guò)程；監(jiān)測(cè)整個(gè)過(guò)程的粒度變化情況，有助于穩(wěn)定性研究$nl 全自動(dòng)非接觸測(cè)量：能穿透玻璃和塑料針管，測(cè)定包裝物及反應(yīng)釜中的粒度分布和隨時(shí)間的變化

Vasco納米粒度分析儀 VASCO 顆粒粒度分析儀是基于增強(qiáng)型動(dòng)態(tài)光散射（DLS）技術(shù)的納米級(jí)懸浮和膠體特性的儀器。得益于與法國(guó)Institute of Petroleum（IFP）合作開發(fā)的技術(shù)， VASCO是濃縮和不透明懸浮液樣品*的解決方案。